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大中华区TY-ABR-1000光弹系数测试仪总代理

产品/服务:
品 牌: 田野仪器
有效期至: 长期有效
最后更新: 2022-03-11 11:07
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    1.概述

    1.1 简介

    TY-ABR-1000 装置,在本公司制造的自动双折射测量装置(TY-ABR-1000 系列)的基础上增设了应力载荷装置,由此可以测量到高精度的光弹性常数。测量方法是,采用配置的拉伸/压缩试验机,对样品施加载荷的同时测量光弹性常数。

    双折射测量的方式,由于采用光学外差法的普通光路干涉仪,及通过Fourier分析法进行数据处理的方式, 其特点是速度快,精度高,并不受振动及空气流动等外界干扰。干涉仪采用波长为633 nm的频率稳定的横向Zeeman激光器(输出2 mW)作为光源,尽量减少设备构成中的光学部件,实现了长期使用过程中,基本上无需维护的构造。

     

    1.2 特点

    ◎测量时间 3秒以下/测量点 

    ◎解析度 双折射相位差:0.01nm  

                       主轴方位角:0.1deg.

    ◎精度 应力松弛可控制到 小化

    ◎负载量 量程0~50N   小读数0.01N

                      (收费选项:添加可切换式量程)  

     

    ◎测量位置确认 可通过目测来确认测量位置

    ◎操作简单 根据菜单指示用鼠标进行简单操作 

    ◎ 适合用于研究及质量管理

     

    1.3 双折射测量原理

    本设备使用由两个线性偏振光分量(f1,f2)组成的稳频激光器(STZL),两个线性偏振光分量的光频 率略有不同并且彼此正交。 该双频光被斜角分离器分成两个光路,并且每个均被线性偏振器混合成外差。由光电二 管进行光电转换的拍频信号(fb = f1-f2)为几百kHz,可以通过示波器或电相位计读取。 

    以此方式,样品的光学相位差(δ)被转换为拍频信号的相位差(δ),并且可以容易地被测量。如图所示,通过使半波片和线性偏振片同步旋转来获得样品的主轴方向(φ)。

     

    ○ 相位差:Re

          Re=(λ/2π)δ=(nS-nF)d   

     

    ・λ :光源波长

    ・δ :实测相位差   

    ・nS,nF :主折射率

    ・d      :样品厚度 

     

    ○ 主轴方位角:φ 


     

    1.4 主要规格

    1.4.1 光弹性常数的测量性能及规格性能

    测 量 范 围 :

    0.1~200 (×10-12/Pa) 前 后

     

    重复精 度 * :

    2%以下

    以 TAC(三乙酰纤维素)薄膜作为被测样品测量时

    测 量 方 法 :

     

     

     

     

     

     

     

    (1) 压缩模式; 

    对类似于普通玻璃的硬质样品施加压缩载荷进行测量的模式(标准样品形状;φ20,t15mm)

    (2) 拉伸模式; 

                对类似于薄膜的软质样品施加拉伸载荷进行测量的模式

    (有关例如哑铃形或条形薄膜等其他形状的样品,将另行协商) 

    (利用初始双折射量校准功能,可以使该测量不受样品初始条件的影响)

    载 荷 范 围 :

    0~50N ( 小每 0.1N 程序)

     

    规格

     

    转换模式:

    压缩模式及拉伸模式

    驱动系统 :

    采用步进马达同时驱动左右螺钉

    模式切换:

    可通过软件切换(但是,样品卡盘需要手动切换)

    拉伸/压缩速度:

    0.01~100mm/min

    拉伸/压缩距离:

    100mm MAX

    称重传感器:

    额定 50N (可更换为 200N,1000N)

     

    1.4.2 双折射测量性能及规格性能

    测 量 项 目 :

    ○ 双折射相位差:Re

    (光学相位差:δ)

    ○ 主轴方位角:φ 

    测 量 范 围 :

    0~260nm

    (0~150deg.)

    0±90deg.

    解 析 度 : 

    0.01nm

    (0.006deg.)

    0.1deg.

     

       

    重 复 精 度 :

    ±0.5nm

    (±0.3deg.)

    ±0.5deg.

    (水晶材质的相位差板(1/4λ)在正常的检验室环境下测量的实际值

    为3σ)

    测 量 时 间 :

    3秒以下/测量点(同时测量相位差及方位角)

     

    规格

    测 量 原 理 :

    光学外差测量法(双折射量 Re,主轴方位角 φ)

    光 源 : 

    He-Ne 激光(λ=633nm;输出 2mW) [稳频横向 Zeeman 激光器]

    光 束 直 径 :

    φ0.75mm(1/e2)

     


    1.4.3 装置外形

     

    光弹性测量装置 型号TY-ABR-100 0

     

    1.5 测量例

    1.5.1 光弹性常数测量

    光弹性常数TAC(三乙酰纤维素)薄膜  

     

    歪失真量VS相位差TAC(三乙酰纤维素)薄膜

     

    2. 交货条件 

    2.1 货期 

    般情况下在接受正式订单 6 个月后出厂交货。但是,在发生意外的情况时,将经协商另行决定。出口/运输时间另行协商。 

     

     

    2.2 交接条件 

        在本产品规格书中所示的范围内进行调整并交付。

     

    2.3 验收 

        在贵公司负责人的监督下进行试运行,以满足下列条件视为验收结束。(1)本装置满足产品规格书中所记载的功能。

    (2) 本装置能够正常运行。

    (3) 可以满足贵公司的验收条件。 

     

    2.4 质量保证 

    本装置验收后 年之内,如明显属于本公司职责范围内的产品不良而产生的故障或不良,本公司将提供免费修理或更换。

     

    2.5 使用条件 

    请按照本产品规格书以及操作指南中的说明使用本装置。如不遵守本产品规格书以及操作指南的要求而进行操作时,恕不提供质量保证。

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