高频介电常数介质损耗测量仪 介电常数,用于衡量*缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以*缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的*化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两*板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同*种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同
形式
各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：
1）漏导损耗
实际使用中的*缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有*些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在*些缺陷，或多或少存在*些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。
2）*化损耗
在介质发生缓慢*化时（松弛*化、空间电荷*化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。
*些介质在电场*化时也会产生损耗，这种损耗*般称*化损耗。位移*化从建立*化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是*短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢*化（例如松弛*化、空间电荷*化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。
若外加频率较低，介质中所有的*化都能完全跟上外电场变化，则不产生*化损耗。若外加频率较高时，介质中的*化跟不上外电场变化，于是产生*化损耗。 [2]
3）电离损耗
电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。
4）结构损耗
在高频电场和低温下，有*类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。
试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。
5）宏观结构不均勾性的介质损耗
工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗*大的*相和损耗*小的*相之间。
工作特性
1．Q值测量
a．Q值测量范围：2～1023；
b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
c．标称误差
A（高频） C（工频）
频率范围 25kHz～10MHz 100kHz～10MHz
固有误差 ≤5％±满度值的2% ≤5％±满度值的2%
工作误差 ≤7％±满度值的2% ≤7％±满度值的2%
频率范围 10MHz～60MHz 10MHz～160MHz
固有误差 ≤6％±满度值的2% ≤6％±满度值的2%
工作误差 ≤8％±满度值的2% ≤8％±满度值的2%
2．电感测量范围
A C
14.5nH～8.14H 4.5nH～140mH
3．电容测量
A C
直接测量范围 1～460p 1～205p
主电容调节范围 40～500pF 18～220pF
准确度 150pF以下±1.5pF；
150pF以上±1% 150pF以下±1.5pF
150pF以上±1%
注：大于直接测量范围的电容测量见使用方法。
4．信号源频率覆盖范围
A C
频率范围 10kHz～60MHz 0.1～160MHz
CH1 10～99.9999kHz 0.1～0.999999MHz
CH2 100～999.999kHz 1～9.99999MHz
CH3 1～9.99999MHz 10～99.9999MHz
CH4 10～60MHz 100～160MHz
频率指示误差 3×10-5±1个字
5．Q合格指示预置功能：预置范围：5～1000
6．Q表正常工作条件
a. 环境温度：0℃～+40℃；
b．相对湿度：<80％；
c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：约25W；
b．净重：约7kg；
c.外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。
安全措施
（1）高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能迅速切断高压输出。
（2）CVT保护：设定自激电压的过流点，*旦超出设置的电流值，仪器自动退出测量，不会损坏设备。
（3）接地检测：仪器有接地检测功能，未接地时不能升压测量。
（4）防误操作：具备防误操作设计，能判别常见接线错误，安全报警。
（5）防“容升”：测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应，仪器能自动跟踪输出电压，保持试验电压恒定。
电感：
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH
特点：
◆ 优化的测试电路设计使残值更小
◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术
◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换
◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度
西林电桥是测量电容率和介质损耗因数的*经典的装置。它可使用从低于工频(50 Hz-60 Hz)直至 100 kHz的频率范围，通常测定 50 pF-1 000 pF的电容(试样或被试设备通常所具有的电容)这是*个四臂回路(图A. 1)。其中两个臂主要是电容(未知电容 Cx和*个无损耗电容C,)。另外两臂(通常称之为测量臂)由无感电阻R，和 R:组成，电阻 R,在未知电容 Cx的对边上，测量臂至少被*个电容 C,分流 *般地说，电容 C:和两个电阻R,和R:中的*个是可调的。
如果采用电阻R、和(纯)电容 C 的串联等值回路来表示电容 Cx，则图 A. 1所示的电桥平衡时导出 :
R1
Cs=Cn·——
R2
和tanδx=ωCSRS=ωC1R1
如果电阻 R2被*个电容C2分流，则tanδ = 的公式变为：
Tanδx=ωC1R1---ωC2R2
由于频率范围的不同，实际上电桥构造会有明显的不同。例如*个50 pF-1 000 pF的电容在50 Hz时的阻抗为 60 MΩ-3 MΩ，在 100 kHz时的阻抗为 3 000 Ω-1 500Ω.
频率为 100 kHz时，桥的四个臂容易有相同数量*的阻抗，而在 50 Hz-60 Hz的频率范围内则是不可能的。因此，出现了低频和(相对)高频两种不同形式的电桥.
使用方法
高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。
1．测试注意事项
a．本仪器应水平安放；
b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；
c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；
d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；
e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部*公分以上，必要时可用低损耗的*缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；
f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。
2．高频线圈的Q值测量（基本测量法）
Usage method
The high-frequency Q-meter is a versatile impedance measurement instrument. In order to improve measurement accuracy, in addition to minimizing the residual parameters of the Q-meter test circuit itself and ensuring the frequency response of the coupling circuit is as good as possible, it is also necessary to master the correct testing methods and residual parameter correction methods.
1. Test precautions
a. This instrument should be placed horizontally;
b. If you need to measure more accurately, please turn on the power and preheat for 30 minutes;
c. When adjusting the main regulating capacitor or the digital switch of the main regulating capacitor, please adjust slowly when approaching the resonance point;
d. The wiring between the tested piece and the test circuit terminal should be as short and thick as possible, and should have good and reliable contact to reduce measurement errors caused by the resistance and distribution parameters of the wiring;
e. Do not place the tested piece directly on the top of the panel, at least one centimeter away from the top. If necessary, use a low loss insulation material such as polystyrene as a pad for padding;
f. Hands should not be close to the test piece to avoid measurement errors caused by human induction. For test pieces with shielding, the shielding cover should be connected to the low potential terminal terminal.
2. Q-value measurement of high-frequency coils (basic measurement method)
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